SEICA參加IPP技術日,2022年3月15日至16日
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Seica將參加2022年IPP技術日，我們很榮幸再次與我們的合作伙伴IPP一起參加飛針測試會議。一如既往，這兩天的行程將結(jié)合技術演示和現(xiàn)場機器演示。
Seica將展示飛針測試解決方案以及Pilot和Rapid系列，展示垂直飛針測試系統(tǒng)Rapid V8，配備8個完全獨立的移動測試探針，每側(cè)4個探針，進行演示并指出所有創(chuàng)新性能。
由于采用了第三代線性導軌技術，Seica飛針測試系統(tǒng)能夠以最高的精度和測量重復性實現(xiàn)極高的速度。
現(xiàn)在注冊(https://www.ippgroupltd.com/electronics/ipp-electronic) 參加IPP技術日，除了使用8探針系統(tǒng)進行演示外，您還將有可能獲得有關Seica飛針系統(tǒng)的全面信息，并能夠觀看顯示Seica在35年的業(yè)務活動中取得的高技術水平的視頻：尤其是新的Pilot VX平臺。
Pilot VX通過尖端解決方案提高了飛針測試性能的標準，解決了電子板制造商尋求優(yōu)化投資的基本問題。一個主要的問題是成本，由于時間是成本，由于新的最先進的機械性能和運動控制，測試時間最多可減少50%，從而為您節(jié)省資金。Pilot VX有12個多功能測試頭，可同時接觸多達44個點，技術先進的測量硬件、基于微波的新測量技術和優(yōu)化的VIVA軟件可實現(xiàn)不同類型測試的并行化，節(jié)省更多時間。該平臺還包括智能分析功能，以及基于人工智能原理的算法，可以在運行時自動優(yōu)化測試流程，同時保持測試覆蓋率目標。
Pilot VX：快速、強大、智能……飛針測試的未來。
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